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Pietsch / Holy / Baumbach High-Resolution X-Ray Scattering
From Thin Films to Lateral Nanostructures2. Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-0-387-40092-1Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
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Pietsch / Holy / Baumbach High-Resolution X-Ray Scattering
From Thin Films to Lateral Nanostructures2. Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-2307-3Medium: Buch96,29 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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