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Möllenstedt / Ruska / Niehrs IV. Internationaler Kongreß für Elektronenmikroskopie / IVth International Congress on Electron Microscopy / IVe Congres International de Microscopie Electronique. Berlin, 10.-17. September 1958
Band 1: Physikalisch-technischer TeilSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1960Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-50196-8Medium: Buch99,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Möllenstedt / Niehrs / Ruska IV. Internationaler Kongreß für Elektronenmikroskopie / IVth International Congress on Electron Microscopy / IVe Congres International de Microscopie Electronique. Berlin, 10.-17. September 1958
Band 1: Physikalisch-technischer TeilErscheinungsjahr 2013Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-50195-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark79,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Bargmann / Möllenstedt / Niehrs Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique
Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer TeilErscheinungsjahr 1960Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-49481-9Medium: Buch54,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Bargmann / Möllenstedt / Niehrs Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique
Berlin 10.-17. September 1958Erscheinungsjahr 1960Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-49480-2Medium: Buch54,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Bargmann / Möllenstedt / Niehrs Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique
Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil1960Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-49765-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark42,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Bargmann / Möllenstedt / Niehrs Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique
Berlin 10.–17. September 19581960Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-49764-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark42,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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