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Li / Liu / Yan Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach2023Verlag: Springer Nature SingaporeISBN: 978-981-19-8550-8Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Li / Liu / Yan Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach2023Verlag: Springer Nature SingaporeISBN: 978-981-19-8553-9Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Li / Yan / Liu Built-in Fault-Tolerant Computing Paradigm for Resilient Large-Scale Chip Design
A Self-Test, Self-Diagnosis, and Self-Repair-Based Approach1. Auflage 2023Verlag: Springer SingaporeISBN: 978-981-19-8551-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark213,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Liu / Hong / Pan Research on the Development and Education of 0-3-Year-Old Children in China
1. Auflage 2019Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-59753-8Medium: Buch128,39 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Liu / Hong / Feng Research on the Development and Education of 0-3-Year-Old Children in China
1. Auflage 2019Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-59755-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark117,69 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Wang / Wu / Wen VLSI Test Principles and Architectures
Design for TestabilityErscheinungsjahr 2006Verlag: Elsevier ScienceISBN: 978-0-12-370597-6Medium: Buch86,00 € (inkl. MwSt.)
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