Ergebnisse filtern
-
- 1
-
- 1
-
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
- 1
-
- 1
-
- 1
-
- 1
-
- 1
-
- 1
-
Laurila / Vuorinen / Paulasto-Kröckel Interfacial Compatibility in Microelectronics
Moving Away from the Trial and Error Approach1. Auflage 2012Verlag: SpringerISBN: 978-1-4471-2470-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort