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Fultz / Howe Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials
2001Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-04516-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark85,59 € (inkl. MwSt.)
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Dehm / Howe / Zweck In-situ Electron Microscopy
Applications in Physics, Chemistry and Materials Science1. Auflage 2012Verlag: WILEY-VCHISBN: 978-3-527-31973-2Medium: Buch169,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Dehm / Howe / Zweck In-situ Electron Microscopy
Applications in Physics, Chemistry and Materials Science1. Auflage 2012Verlag: Wiley-VCHISBN: 978-3-527-65219-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)151,99 € (inkl. MwSt.)
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Dehm / Howe / Zweck In-situ Electron Microscopy
Applications in Physics, Chemistry and Materials Science1. Auflage 2012Verlag: Wiley-VCHISBN: 978-3-527-65218-1Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)151,99 € (inkl. MwSt.)
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