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Gan / Wong / Liou Semiconductor Process Reliability in Practice
Erscheinungsjahr 2012Verlag: McGraw-Hill Education - EuropeISBN: 978-0-07-175427-9Medium: Buch185,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Tan / Li / Gan Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
1. Auflage 2011Verlag: SpringerISBN: 978-0-85729-310-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Tan / Hou / Li Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
2011Verlag: SpringerISBN: 978-0-85729-309-1Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Tan / Hou / Li Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
2011Verlag: SpringerISBN: 978-1-4471-2641-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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