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Fearn An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Erscheinungsjahr 2015Verlag: Morgan & Claypool PublishersISBN: 978-1-68174-024-9Medium: Buch38,70 € (inkl. MwSt.)
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Fearn An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Erscheinungsjahr 2015Verlag: Morgan & Claypool Publishers LLC-IopISBN: 978-1-64327-910-7Medium: Buch115,50 € (inkl. MwSt.)
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Fearn An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Erscheinungsjahr 2015Verlag: Morgan & Claypool PublishersISBN: 978-1-68174-152-9Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 0 - No protection38,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Shard / Fearn Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
2. Auflage 2025Verlag: Institute of Physics PublishingISBN: 978-0-7503-3329-0Medium: Buch93,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Fearn / Shard Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
2. Auflage 2025Verlag: Institute of Physics PublishingISBN: 978-0-7503-3331-3Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 0 - No protection92,99 € (inkl. MwSt.)
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