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Cho Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
Investigation of Ferroelectric, Dielectric, and Semiconductor Materials and Devices1. Auflage 2020Verlag: Elsevier Science & Techn.ISBN: 978-0-08-102803-2Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark175,00 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Cho Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
Erscheinungsjahr 2020Verlag: William Andrew PublishingISBN: 978-0-12-817246-9Medium: Buch190,86 € (inkl. MwSt.)
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