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Bahukudumbi Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits
Erscheinungsjahr 2010Verlag: Artech HouseISBN: 978-1-59693-990-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)92,49 € (inkl. MwSt.)
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Bahukudumbi / Chakrabarty Wafer-Level Testing and Test During Burn-In for Integrated Circuits
Unabridged edVerlag: Artech House PublishersISBN: 978-1-59693-989-9Medium: Buch129,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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