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Naturwissenschaften
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Pacchioni / Griscom / Skuja Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
2000Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-0-7923-6685-0Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Pacchioni / Griscom / Skuja Defects in SiO2 and Related Dielectrics: Science and Technology
2000Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-0-7923-6686-7Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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