Ergebnisse filtern
Fachgebiet
Medium
  • 105
Erscheinungsjahr
  • 1
  • 1
  • 2
  • 1
  • 1
  • 2
  • 7
  • 2
  • 14
  • 1
  • 5
  • 5
  • 5
  • 2
  • 27
  • 2
  • 7
  • 2
  • 9
  • 3
  • 1
  • 3
  • 1
  • 1
Autoren
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 35
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 25
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 1
  • 1
  • 2
  • 1
  • 1
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 4
  • 2
  • 2
  • 2
  • 1
  • 2
  • 1
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 1
  • 2
  • 2
  • 2
  • 1
  • 2
  • 2
  • 1
  • 2
  • 2
  • 3
  • 1
  • 2
  • 3
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 4
  • 6
  • 2
  • 2
  • 2
  • 1
  • 2
  • 2
  • 4
  • 2
  • 1
Verlag
  • 65
  • 24
  • 15
  • 1
Preis
  • 105
Sprachen
  • 105
Verfügbarkeit
  • 105
Katalog
  • 105
  • 2
105  Treffer  für „NanoScience and Technology“
    Gölzhäuser / Hlawacek | Helium Ion Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Gölzhäuser / Hlawacek Helium Ion Microscopy

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-82473-4
    Medium: Buch
    246,09 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Morita / Meyer / Wiesendanger | Noncontact Atomic Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita / Meyer / Wiesendanger Noncontact Atomic Force Microscopy

    2002
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-43117-6
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Le Lay / Vogt | Silicene | Buch | Sack Fachmedien

    Le Lay / Vogt Silicene

    Prediction, Synthesis, Application
    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-99962-3
    Medium: Buch
    149,79 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Hopster / Oepen | Magnetic Microscopy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Hopster / Oepen Magnetic Microscopy of Nanostructures

    2005
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-40186-5
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09341-8
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb

Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular