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    Dragoman | 2D Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Dragoman 2D Nanoelectronics

    Physics and Devices of Atomically Thin Materials
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2017
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-83942-4
    Medium: Buch
    117,69 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74082-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    Softcover Nachdruck of hardcover 1. Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09955-7
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods

    Volumes I - XIII
    1. Auflage 2011
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-88823-9
    Medium: Buch
    534,99 € (inkl. MwSt.)
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    Wiesendanger | Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Wiesendanger Scanning Probe Microscopy

    Analytical Methods
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 1998
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-08360-0
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2006
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-26242-8
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09870-3
    Medium: Buch
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    S. Dresselhaus / Aoki | Physics of Graphene | Buch | Sack Fachmedien

    S. Dresselhaus / Aoki Physics of Graphene

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-35252-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods VIII | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods VIII

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2008
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-74079-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Güçlü / Hawrylak / Potasz | Graphene Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Güçlü / Hawrylak / Potasz Graphene Quantum Dots

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-52188-5
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Krahne / Manna / Deka | Physical Properties of Nanorods | Buch | Sack Fachmedien

    Krahne / Manna / Deka Physical Properties of Nanorods

    2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-36429-7
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Morita | Roadmap of Scanning Probe Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Morita Roadmap of Scanning Probe Microscopy

    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-34314-1
    Medium: Buch
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    Celano | Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics | Buch | Sack Fachmedien

    Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics

    1. Auflage 2019
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-15611-4
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Oepen / Hopster | Magnetic Microscopy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Oepen / Hopster Magnetic Microscopy of Nanostructures

    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-07286-4
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Bhushan / Hosaka / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods I | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I

    2004
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-00527-8
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XI | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XI

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85036-6
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods XII | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XII

    Characterization
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85038-0
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    S. Dresselhaus / Aoki | Physics of Graphene | Buch | Sack Fachmedien

    S. Dresselhaus / Aoki Physics of Graphene

    2014
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-02632-9
    Medium: Buch
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    Bhushan / Hosaka / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods I | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Hosaka / Fuchs Applied Scanning Probe Methods I

    Softcover version of original hardcover Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-05602-4
    Medium: Buch
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    Hopster / Oepen | Magnetic Microscopy of Nanostructures | Buch | Sack Fachmedien

    Hopster / Oepen Magnetic Microscopy of Nanostructures

    1. Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-40186-5
    Medium: Buch
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    Bhushan / Tomitori / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IX | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Tomitori / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IX

    Characterization
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09341-8
    Medium: Buch
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    Michler | Single Semiconductor Quantum Dots | Buch | Sack Fachmedien

    Michler Single Semiconductor Quantum Dots

    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-87445-4
    Medium: Buch
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    Fuchs / Bhushan | Applied Scanning Probe Methods II | Buch | Sack Fachmedien

    Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods II

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-06569-9
    Medium: Buch
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    Bhushan / Kawata / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods V | Buch | Sack Fachmedien

    Bhushan / Kawata / Fuchs Applied Scanning Probe Methods V

    Scanning Probe Microscopy Techniques
    2007
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-37315-5
    Medium: Buch
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    Krahne / Manna / Deka | Physical Properties of Nanorods | Buch | Sack Fachmedien

    Krahne / Manna / Deka Physical Properties of Nanorods

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2013
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-44817-1
    Medium: Buch
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