Fachgebiet
Medium
  • 57
Erscheinungsjahr
  • 1
  • 1
  • 2
  • 1
  • 1
  • 4
  • 8
  • 7
  • 1
  • 3
  • 2
  • 3
  • 2
  • 10
  • 1
  • 1
  • 1
  • 4
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
Autoren
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 4
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 1
  • 1
  • 2
  • 2
  • 4
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 5
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 4
  • 4
Verlag
  • 27
  • 6
  • 20
  • 2
  • 2
Preis
  • 3
  • 54
Sprachen
  • 57
Verfügbarkeit
  • 57
Katalog
  • 57
57  Treffer  für „Springer Series in Surface Sciences“


    Woicik Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-24041-1
    Medium: Buch
    299,59 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb

    Stöhr NEXAFS Spectroscopy

    1992
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-54422-7
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb

    Hirota / Inomata / Sakakima Giant Magneto-Resistance Devices

    2002
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-41819-1
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb

    Wendler / Wesch Ion Beam Modification of Solids

    Ion-Solid Interaction and Radiation Damage
    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-33559-9
    Medium: Buch
    246,09 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb

    Stenzel The Physics of Thin Film Optical Spectra

    An Introduction
    2. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-33049-5
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb

    Glatzel / Sadewasser Kelvin Probe Force Microscopy

    From Single Charge Detection to Device Characterization
    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-75686-8
    Medium: Buch
    235,39 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb

    Haschke Laboratory Micro-X-Ray Fluorescence Spectroscopy

    Instrumentation and Applications
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-35302-9
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb



Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular