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Mitani / Shimizu New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy
2010Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-26168-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Glatzel / Sadewasser Kelvin Probe Force Microscopy
Measuring and Compensating Electrostatic Forces2012Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-27113-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Glatzel / Sadewasser Kelvin Probe Force Microscopy
Measuring and Compensating Electrostatic Forces2012Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-22565-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Kuch / Hillebrecht / Schäfer Magnetic Microscopy of Layered Structures
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2015Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-51776-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Woicik Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-79572-0Medium: Buch299,59 € (inkl. MwSt.)
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Haschke Laboratory Micro-X-Ray Fluorescence Spectroscopy
Instrumentation and ApplicationsErscheinungsjahr 2014Verlag: SpringerISBN: 978-3-319-04863-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Kuch / Hillebrecht / Schäfer Magnetic Microscopy of Layered Structures
2015Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-44531-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Woicik Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)
1. Auflage 2016Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-24041-1Medium: Buch299,59 € (inkl. MwSt.)
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Glatzel / Sadewasser Kelvin Probe Force Microscopy
From Single Charge Detection to Device CharacterizationSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-09298-6Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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Ohlídal / Stenzel Optical Characterization of Thin Solid Films
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-09200-9Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Ohlídal / Stenzel Optical Characterization of Thin Solid Films
1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-75324-9Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Haschke Laboratory Micro-X-Ray Fluorescence Spectroscopy
Instrumentation and ApplicationsSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-35302-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Glatzel / Sadewasser Kelvin Probe Force Microscopy
From Single Charge Detection to Device Characterization1. Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-75686-8Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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