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    Glatzel / Sadewasser | Kelvin Probe Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Glatzel / Sadewasser Kelvin Probe Force Microscopy

    From Single Charge Detection to Device Characterization
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-09298-6
    Medium: Buch
    235,39 € (inkl. MwSt.)
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    Ohlídal / Stenzel | Optical Characterization of Thin Solid Films | Buch | Sack Fachmedien

    Ohlídal / Stenzel Optical Characterization of Thin Solid Films

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-09200-9
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Woicik | Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES) | Buch | Sack Fachmedien

    Woicik Hard X-ray Photoelectron Spectroscopy (HAXPES)

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-24041-1
    Medium: Buch
    299,59 € (inkl. MwSt.)
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    Haschke | Laboratory Micro-X-Ray Fluorescence Spectroscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Haschke Laboratory Micro-X-Ray Fluorescence Spectroscopy

    Instrumentation and Applications
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-35302-9
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Stöhr | NEXAFS Spectroscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Stöhr NEXAFS Spectroscopy

    1992
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-54422-7
    Medium: Buch
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Glatzel / Sadewasser | Kelvin Probe Force Microscopy | Buch | Sack Fachmedien

    Glatzel / Sadewasser Kelvin Probe Force Microscopy

    From Single Charge Detection to Device Characterization
    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-75686-8
    Medium: Buch
    235,39 € (inkl. MwSt.)
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