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Mathematik | Informatik

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    Lee / Verri | Pattern Recognition with Support Vector Machines | Buch | Sack Fachmedien

    Lee / Verri Pattern Recognition with Support Vector Machines

    First International Workshop, SVM 2002, Niagara Falls, Canada, August 10, 2002. Proceedings
    Erscheinungsjahr 2002
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-44016-1
    Medium: Buch
    53,49 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
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