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Mathematik | Informatik
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Stein / Shi / Bijker Quality Aspects in Spatial Data Mining
1. Auflage 2019Verlag: Taylor & FrancisISBN: 978-0-367-38632-0Medium: BuchLieferzeit ca. 10 Werktage -
Wenzhong / Wu / Stein Uncertainty Modelling and Quality Control for Spatial Data
1. Auflage 2019Verlag: CRC PR INCISBN: 978-0-367-37714-4Medium: Buch67,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Wenzhong / Wu / Stein Uncertainty Modelling and Quality Control for Spatial Data
1. Auflage 2015Verlag: CRC PressISBN: 978-1-4987-3328-1Medium: Buch191,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Stein / Shi / Bijker Quality Aspects in Spatial Data Mining
Erscheinungsjahr 2010Verlag: Taylor & FrancisISBN: 978-1-4200-6927-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)91,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Wenzhong / Wu / Stein Uncertainty Modelling and Quality Control for Spatial Data
Erscheinungsjahr 2015Verlag: CRC PressISBN: 978-1-4987-3334-2Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)91,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Shi / Stein / Bijker Quality Aspects in Spatial Data Mining
1. Auflage 2008Verlag: Taylor & Francis IncISBN: 978-1-4200-6926-6Medium: Buch155,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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