Ergebnisse filtern
-
- 1
- 1
-
- 2
-
- 2
- 2
- 2
-
- 1
- 1
-
- 2
-
- 2
-
- 2
-
- 2
Mathematik | Informatik
-
Baddeley / Rubak / Turner Spatial Point Patterns
Methodology and Applications with R1. Auflage 2015Verlag: Taylor & FrancisISBN: 978-1-4822-1021-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)129,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
-
Baddeley / Rubak / Turner Spatial Point Patterns
Methodology and Applications with R1. Auflage 2015Verlag: Chapman and Hall/CRCISBN: 978-1-4822-1020-0Medium: Buch132,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular
Bitte ändern Sie das Passwort
