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Numerik und Wissenschaftliches Rechnen
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Stöhr / Gerlach Entwicklung und Analyse von spannungsoptischen Methoden zur Absolutspannungsmessung in anisotropen Halbleitermaterialien
Erscheinungsjahr 2025Verlag: TUDpressISBN: 978-3-95908-808-4Medium: Buch29,80 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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