Buch, Englisch, 300 Seiten, Format (B × H): 150 mm x 210 mm, Gewicht: 419 g
Buch, Englisch, 300 Seiten, Format (B × H): 150 mm x 210 mm, Gewicht: 419 g
ISBN: 978-1-78548-190-1
Verlag: Elsevier Science & Technology
Zielgruppe
Scientists, researchers and engineers interested in this subject area
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Verkehrstechnik | Transportgewerbe Luft- und Raumfahrttechnik, Luftverkehr
- Mathematik | Informatik EDV | Informatik Technische Informatik Eingebettete Systeme
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Maschinenbau Mechatronik, Mikrosysteme (MEMS), Nanosysteme
- Technische Wissenschaften Verkehrstechnik | Transportgewerbe Fahrzeugtechnik
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Produktionstechnik Zuverlässigkeitstechnik
Weitere Infos & Material
1. Highly Accelerated Testing 2. Aging Power Transistors in Operational Conditions 3. Physical Defects Analysis of Mechatronic Systems 4. Impact of Voids in Interconnection Materials 5. Electro-Thermo-Mechanical Modeling 6. Meta-Model Development 7. Optimizing Reliability of Electronic Systems 8. High-Efficiency Architecture for Power Amplifiers