Echlin / Fiori / Goldstein | Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis | E-Book | www2.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 454 Seiten

Echlin / Fiori / Goldstein Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis


Erscheinungsjahr 2013
ISBN: 978-1-4757-9027-6
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, 454 Seiten

ISBN: 978-1-4757-9027-6
Verlag: Springer US
Format: PDF
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Autoren/Hrsg.

Echlin, Patrick
Fiori, C. E.
Goldstein, Joseph
Joy, David C.
Newbury, Dale E.
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