Doneker | Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997 | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 524 Seiten

Doneker Defect Recognition and Image Processing in Semiconductors 1997


Proceedings of the seventh conference on Defect Recognition and Image Processing, Berlin, September 1997

E-Book, Englisch, 524 Seiten

ISBN: 978-1-351-45646-3
Verlag: Taylor & Francis eBooks
Format: EPUB
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

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Autoren/Hrsg.

Doneker, J.
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