Volume 1 - Basic and Advanced Devices
Buch, Englisch, 211 Seiten, Book, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 5022 g
ISBN: 978-3-319-15289-9
Verlag: Springer-Verlag GmbH
This book describes the basic technologies and operation principles of charge-trapping non-volatile memories. The authors explain the device physics of each device architecture and provide a concrete description of the materials involved as well as the fundamental properties of the technology. Modern material properties used as charge-trapping layers, for new applications are introduced.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Materialwissenschaft: Biomaterialien, Nanomaterialien, Kohlenstoff
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Halb- und Supraleitertechnologie
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Materialwissenschaft: Elektronik, Optik
Weitere Infos & Material
Preface.- Introduction to NVM devices.- A synopsis on the state of the art of NAND memories.- Charge-trap memories with ion beam modified ONO stacks.- 3D NAND Flash Architectures.- Quantum dot Nonvolatile Memories.- Two-Terminal Organic Memories with Metal or Semiconductor Nanoparticles.