Cullis / Hutchison | Microscopy of Semiconducting Materials | E-Book | www2.sack.de
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E-Book, Englisch, Band 107, 540 Seiten

Reihe: Springer Proceedings in Physics

Cullis / Hutchison Microscopy of Semiconducting Materials

Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK
2005
ISBN: 978-3-540-31915-3
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Proceedings of the 14th Conference, April 11-14, 2005, Oxford, UK

E-Book, Englisch, Band 107, 540 Seiten

Reihe: Springer Proceedings in Physics

ISBN: 978-3-540-31915-3
Verlag: Springer Berlin Heidelberg
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

The 14th conference in the series focused on the most recent advances in the study of the structural and electronic properties of semiconducting materials by the application of transmission and scanning electron microscopy. The latest developments in the use of other important microcharacterisation techniques were also covered and included the latest work using scanning probe microscopy and also X-ray topography and diffraction.

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Autoren/Hrsg.

Cullis, A. G.
Hutchison, John L.
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