Cox | Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology | E-Book | sack.de
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E-Book, Englisch

Reihe: IOP Concise Physics

Cox Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology


Erscheinungsjahr 2015
ISBN: 978-1-68174-148-2
Verlag: Morgan & Claypool Publishers
Format: EPUB
 Kopierschutz: 0 - No protection

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ISBN: 978-1-68174-148-2
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Autoren/Hrsg.

Cox, David C
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