Chadradhar / Agrawal / Bushnell | Neural Models and Algorithms for Digital Testing | E-Book | www2.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 140, 184 Seiten

Reihe: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Chadradhar / Agrawal / Bushnell Neural Models and Algorithms for Digital Testing


Erscheinungsjahr 2012
ISBN: 978-1-4615-3958-2
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, Band 140, 184 Seiten

Reihe: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

ISBN: 978-1-4615-3958-2
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

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Autoren/Hrsg.

Chadradhar, S. T.
Agrawal, Vishwani
Bushnell, M.
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