Brenner / Langenberg / Angermann | High-Tech Heritage | Buch | 978-3-0356-2960-6 | sack.de

Buch, Englisch, Deutsch, 256 Seiten, Format (B × H): 217 mm x 281 mm, Gewicht: 824 g

Brenner / Langenberg / Angermann

High-Tech Heritage

(Im)permanence of Innovative Architecture

Buch, Englisch, Deutsch, 256 Seiten, Format (B × H): 217 mm x 281 mm, Gewicht: 824 g

ISBN: 978-3-0356-2960-6
Verlag: Birkhäuser Verlag GmbH


Hightech-Architektur – Innovatives Konstruktionserbe erhaltenDie Hightech-Architektur der 1970er- bis1990er-Jahre zeichnet sich durch den Einsatz und die Zurschaustellung fortschrittlicher Technologien aus. Das Erscheinungsbild der Gebäude ist geprägt von innovativen Fassaden, farblich betonten Tragkonstruktionen und expressiv zur Schau gestellten Haustechniksystemen. Bedauerlicherweise führt das rasche Veraltern technischer Innovationen jedoch häufig zum vollständigen Ersatz der die Architektur wesentlich bestimmenden Systeme.Eine internationale Tagung an der ETH Zürich in Zusammenarbeit mit der Bauhaus-Universität Weimar ist 2023 der Frage nach einem adäquaten Umgang mit dem Konstruktionserbe technologisch innovativer Architektur nachgegangen. Dieses Buch fasst deren Ergebnisse zusammen und bietet einen Überblick über den aktuellen Stand der Forschung. Aktueller Stand der Wissenschaft zu Highttech-Architektur und Denkmalschutz Überblick über Chancen und Herausforderungen von Hightech-Konstruktionen Neue Erkenntnisse zum Thema Bauen im Bestand Auch als Set mit dem Kongressband Denkmal Postmoderne 978-3-0356-2783-1 erhältlich
Brenner / Langenberg / Angermann High-Tech Heritage jetzt bestellen!

Zielgruppe


Architects, monument conservator, students / Architekt:innen, Denkmalpfleger:innen, Studierende

Weitere Infos & Material


Matthias Brenner, ETH Zürich Silke Langenberg, ETH Zürich Kirsten Angermann, Bauhaus-Universität Weimar Hans-Rudolf Meier, Bauhaus-Universität Weimar

Matthias Brenner, ETH Zürich Silke Langenberg, ETH Zürich Kirsten Angermann, Bauhaus-Universität Weimar Hans-Rudolf Meier, Bauhaus-Universität Weimar


Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.