Buch, Englisch, 192 Seiten, Paperback, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 355 g
Buch, Englisch, 192 Seiten, Paperback, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 355 g
Reihe: Electronic Materials: Science & Technology
ISBN: 978-3-319-84642-2
Verlag: Springer International Publishing
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Materialwissenschaft: Keramik, Glas, Sonstige Werkstoffe
- Naturwissenschaften Chemie Physikalische Chemie Elektrochemie, Magnetochemie
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Kontinuumsmechanik
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Materialwissenschaft: Elektronik, Optik
Weitere Infos & Material
Introduction.- Conventional Methods for Measurements of Chemo-Mechanical Coupling.- In-situ High-Temperature X-ray Diffraction of Thin Films: Chemical Expansion and Kinetics.- In-situ Neutron Diffraction Experiments.- In situ Wafer Curvature Relaxation Measurements to Determine Surface Exchange Coefficients and Thermo-Chemically Induced Stresses.- Exploring electro-Chemo-Mechanical Phenomena on the Nanoscale Using Scanning Probe Microscopy.- Continuum Level Transport and Electro-Chemo-Mechanics Coupling—Solid Oxide Fuel Cells and Lithium Ion Batteries.