Buch, Englisch, 623 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 961 g
Measurement Techniques and Nanomechanics
Buch, Englisch, 623 Seiten, Previously published in hardcover, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 961 g
ISBN: 978-3-642-42799-2
Verlag: Springer
Zielgruppe
Graduate
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Naturwissenschaften Physik Mechanik Kontinuumsmechanik, Strömungslehre
- Technische Wissenschaften Technik Allgemein Nanotechnologie
- Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Festkörperphysik, Kondensierte Materie
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Maschinenbau Tribologie
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Kontinuumsmechanik
Weitere Infos & Material
Introduction - Measurement Techniques and Applications.- Scanning Probe Microscopy - Principle of Operation, Instrumentation and Probes.- General and Special Probes in Scanning Microscopies.- Force Calibration Techniques for AFM Cantilevers.- Noncontact Atomic Force Microscopy and Related Topics.- Low Temperature Scanning Probe Microscopy.- Dynamic Modes of Atomic Force Microscopy.- Molecular Single Molecular Recognition Force Spectroscopy and Imaging.- Nanomechanical Properties of Solid Surfaces and Thin Films.- Computer Simulations of Nanometer-Scale Indentation and Friction.