Bhushan / Fuchs | Applied Scanning Probe Methods IV | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 284 Seiten, eBook

Reihe: NanoScience and Technology

Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IV

Industrial Applications
1. Auflage 2006
ISBN: 978-3-540-26914-4
Verlag: Springer
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Industrial Applications

E-Book, Englisch, 284 Seiten, eBook

Reihe: NanoScience and Technology

ISBN: 978-3-540-26914-4
Verlag: Springer
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark



Volumes II, III and IV examine the physical and technical foundation for recent progress in applied near-field scanning probe techniques, and build upon the first volume published in early 2004. The field is progressing so fast that there is a need for a second set of volumes to capture the latest developments. It constitutes a timely comprehensive overview of SPM applications, now that industrial applications span topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. Volume II introduces scanning probe microscopy, including sensor technology, Volume III covers the whole range of characterization possibilities using SPM and Volume IV offers chapters on uses in various industrial applications. The international perspective offered in these three volumes - which belong together - contributes further to the evolution of SPM techniques.

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Zielgruppe


Professional/practitioner

Weitere Infos & Material


Scanning Probe Lithography for Chemical, Biological and Engineering Applications.- Nanotribological Characterization of Human Hair and Skin Using Atomic Force Microscopy (AFM).- Nanofabrication with Self-Assembled Monolayers by Scanning Probe Lithography.- Fabrication of Nanometer-Scale Structures by Local Oxidation Nanolithography.- Template Effects of Molecular Assemblies Studied by Scanning Tunneling Microscopy (STM).- Microfabricated Cantilever Array Sensors for (Bio-)Chemical Detection.- Nano-Thermomechanics: Fundamentals and Application in Data Storage Devices.- Applications of Heated Atomic Force Microscope Cantilevers.



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