Bhattacharya / Hayes | Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing | E-Book | www2.sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 89, 160 Seiten

Reihe: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Bhattacharya / Hayes Hierarchical Modeling for VLSI Circuit Testing


Erscheinungsjahr 2012
ISBN: 978-1-4613-1527-8
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Englisch, Band 89, 160 Seiten

Reihe: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

ISBN: 978-1-4613-1527-8
Verlag: Springer US
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

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Autoren/Hrsg.

Bhattacharya, Debashis
Hayes, John P.
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