Bergstrand / Maréchal / Françon | Grundlagen der Optik / Fundamentals of Optics | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Deutsch, Band 5 / 24, 656 Seiten, eBook

Reihe: Handbuch der Physik Encyclopedia of Physics

Bergstrand / Maréchal / Françon Grundlagen der Optik / Fundamentals of Optics


1956
ISBN: 978-3-642-45850-7
Verlag: Springer
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Deutsch, Band 5 / 24, 656 Seiten, eBook

Reihe: Handbuch der Physik Encyclopedia of Physics

ISBN: 978-3-642-45850-7
Verlag: Springer
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark



Bergstrand / Maréchal / Françon Grundlagen der Optik / Fundamentals of Optics jetzt bestellen!

Zielgruppe


Research

Weitere Infos & Material


Determination of the Velocity of Light.- A. Introduction.- B. Methods of determination in vacuo and in air.- C. Velocity in matter.- D. Some relativistic experiments.- References.- Optique géométrique générale.- A. Lois générales de l’optique géométrique.- B. Recherche du stigmatisme rigoureux.- C. Approximation de (Gauss).- D. Le champ.- E. Les aberrations.- F. Contraste des images; influence des aberrations.- G. Conclusion.- Bibliographie.- Interférences, diffraction et polarisation.- A. Interférences.- B. Diffraction.- C. Polarisation.- Bibliographie Sommaire.- Optik dünner Schichten.- I. Allgemeine Übersicht über die Optik dünner Schichten und die Stoffauswahl in dem vorliegenden Artikel.- II. Die Grundlagen und die Grundaufgabe der Optik dünner Schichten.- III. Reflexionsfreie Schichtsysteme und linearpolarisierend reflektierende Schichtsysteme.- IV. Steigerung der Reflexion durch dünne Schichten.- V. Interferenzfilter.- VI. Methoden zur Messung der optischen Konstanten und der Dicke dünner Schichten.- Literatur.- Schlieren-, Phasenkontrast- und Lichtschnittverfahren.- A. Übersicht.- B. Schlierenverfahren.- C. Die Beugung am Objekt bei abbildenden Schlieren verfahren und das Phasenkontrastverfahren nach (Zernike).- D. Das Lichtschnittverfahren.- E. Vergleich der Schlieren- und Phasenkontrastverfahren mit den abbildenden Interferenzverfahren.- Literatur.- Sachverzeichnis (Deutsch-Englisch).- Subject Index (English-German).- Table des Matières (Français).



Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.