Benninghoven / Evans / Powell | Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II | Buch | 978-3-642-61873-4 | sack.de

Buch, Englisch, 300 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 466 g

Reihe: Springer Series in Chemical Physics

Benninghoven / Evans / Powell

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979
1. Auflage 2011
ISBN: 978-3-642-61873-4
Verlag: Springer

Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS II) Stanford University, Stanford, California, USA August 27-31, 1979

Buch, Englisch, 300 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 466 g

Reihe: Springer Series in Chemical Physics

ISBN: 978-3-642-61873-4
Verlag: Springer

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Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Benninghoven, A.
Evans, C. A. Jr.
Powell, R. A.
Shimizu, R.
Storms, H. A.

Weitere Infos & Material

I. Fundamentals Chairpersons: D.E. Harrison and C.A. Evans, Jr.- II. Quantitation Chairpersons: D.B. Wittry and P. Williams.- III. Semiconductors Chairpersons: C.W. Magee and W. Werner.- IV. Static SIMS Chairperson: A. Benninghoven.- V. Metallurgy Chairpersons: J.D. Brown and A.P. von Rosenstiel.- VI. Instrumentation Chairpersons: D.S. Simons and F.G. Rüdenauer.- VII. Geology Chairpersons: J. Okano and C. Meyer.- VIII. Panel Discussion Chairperson: I.L. Kofsky.- IX. Biology Chairpersons: M.S. Burns and G.H. Morrison.- X. Combined Techniques Chairpersons: C. Johnson and W.H. Christie.- XI. Postdeadline Papers.- Index of Authors.

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