Benninghoven / Colton / Simons | Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band 44, 564 Seiten, eBook

Reihe: Springer Series in Chemical Physics

Benninghoven / Colton / Simons Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS V

Proceedings of the Fifth International Conference, Washington, DC, September 30 – October 4, 1985
Erscheinungsjahr 2012
ISBN: 978-3-642-82724-2
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Proceedings of the Fifth International Conference, Washington, DC, September 30 – October 4, 1985

E-Book, Englisch, Band 44, 564 Seiten, eBook

Reihe: Springer Series in Chemical Physics

ISBN: 978-3-642-82724-2
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

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Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Benninghoven, Alfred
Colton, Richard J.
Simons, David S.
Werner, Helmut W.

Weitere Infos & Material

I Retrospective.- II Fundamentals.- III Symposium: Detection of Sputtered Neutrals.- IV Detection Limits and Quantification.- V Instrumentation.- VI Techniques Closely Related to SIMS.- VII Combined Techniques and Surface Studies.- VIII Ion Microscopy and Image Analysis.- IX Depth Profiling and Semiconductor Applications.- X Metallurgical Applications.- XI Biological Applications.- XII Geological Applications.- XIII Symposium: Particle-Induced Emission from Organics.- XIV Organic Applications Including Fast Atom Bombardment Mass Spectrometry.- Index of Contributors.

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