Advances in X-Ray Analysis

Volume 35b
1. Auflage 1992
ISBN: 978-0-306-44249-0
Verlag: Springer

Buch, Englisch, 640 Seiten, Format (B × H): 175 mm x 250 mm, Gewicht: 1282 g

Springer Book Archives

Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Barrett, Charles S

Barrett, C.S.

Ryon, R.

Gilfrich, John V.

Smith, Deane K

Huang, Ting C.

Gilfrich, J V

Jenkins, Ron

Huang, T C

McCarthy, G.J.

Predecki, Paul K.

Fachgebiete

• Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Mikroprozessoren
• Naturwissenschaften Chemie Analytische Chemie Massenspektrometrie, Spektroskopie, Spektrochemie
• Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffkunde, Materialwissenschaft: Forschungsmethoden
• Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffprüfung

Inhaltsverzeichnis

Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.