Al-Balushi / Ahmad | Response Data Compression Techniques in Digital Circuit Testing | Buch | 978-3-659-23961-8 | sack.de

Buch, Englisch, 96 Seiten, Paperback, Format (B × H): 150 mm x 220 mm, Gewicht: 161 g

Al-Balushi / Ahmad

Response Data Compression Techniques in Digital Circuit Testing

Study and Evaluation
Erscheinungsjahr 2014
ISBN: 978-3-659-23961-8
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing

Study and Evaluation

Buch, Englisch, 96 Seiten, Paperback, Format (B × H): 150 mm x 220 mm, Gewicht: 161 g

ISBN: 978-3-659-23961-8
Verlag: LAP LAMBERT Academic Publishing

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Autoren/Hrsg.

Al-Balushi, Jaber
Ahmad, Afaq
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