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E-Book

E-Book, Englisch, 281 Seiten

Ahmed Nanometer Technology Designs

High-Quality Delay Tests
1. Auflage 2010
ISBN: 978-0-387-75728-5
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

High-Quality Delay Tests

E-Book, Englisch, 281 Seiten

ISBN: 978-0-387-75728-5
Verlag: Springer
Format: PDF
 Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Traditional at-speed test methods cannot guarantee high quality test results as they face many new challenges. Supply noise effects on chip performance, high test pattern volume, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges. This book discusses these challenges in detail and proposes new techniques and methodologies to improve the overall quality of the transition fault test.

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Autoren/Hrsg.

Ahmed, Nisar
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