Agrawal | Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation | Buch | 978-0-7923-9025-1 | sack.de

Buch, Englisch, Band 73, 148 Seiten, HC runder Rücken kaschiert, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 418 g

Reihe: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

Agrawal

Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation


Buch, Englisch, Band 73, 148 Seiten, HC runder Rücken kaschiert, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 418 g

Reihe: The Springer International Series in Engineering and Computer Science

ISBN: 978-0-7923-9025-1
Verlag: Springer US

Agrawal Unified Methods for VLSI Simulation and Test Generation jetzt bestellen!

Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Agrawal, Vishwani D.

Fachgebiete

Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.