Buch, Deutsch, Band 30, 146 Seiten, Format (B × H): 174 mm x 244 mm, Gewicht: 377 g
Reihe: Dissertationsreihe Physik
Buch, Deutsch, Band 30, 146 Seiten, Format (B × H): 174 mm x 244 mm, Gewicht: 377 g
Reihe: Dissertationsreihe Physik
ISBN: 978-3-86845-096-5
Verlag: Universitaetsvlg. Regensb
Rastersondenmikroskopie ist heute eine wichtige analytische Methode in der Oberflächenphysik. Im Rastersondenmikroskop wird eine atomar scharfe Spitze in einem Abstand von wenigen hundert Pikometer über eine Probe geführt und die Wechselwirkung zwischen Spitze und Probe gemessen. Hochauflösende Rasterkraftmikroskopie ist in der Lage subatomare Strukturen abzubilden. In dieser Arbeit wird eine Methode zur Charakterisierung des Bindungszustands der Spitze vorgestellt. Dafür wird die Entwicklung der chemischen Bindungskraft zwischen einem Wolfram-Spitzenatom und einem Kohlenmonoxid-Molekül quantitativ untersucht. Je nach Orientierung der Wolfram-Spitze zeigt sich eine subatomare Winkelabhängigkeit der Bindungskraft. Die Orientierung der Spitze kann verändert werden, um einen Bindungszustand mit einer bestimmten Symmetrie zu erhalten. Mit dieser Methode wird der Einfluss des Bindungszustands auf die Kraftmessung an einer Silizium-Probe untersucht.
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Festkörperphysik, Kondensierte Materie
- Naturwissenschaften Physik Elektromagnetismus Halbleiter- und Supraleiterphysik
- Naturwissenschaften Physik Elektromagnetismus Mikroskopie, Spektroskopie
- Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Oberflächen- und Grenzflächenphysik, Dünne Schichten
