Technology Inst | Technical Proceedings of the 2007 Nanotechnology Conference and Trade Show, Nanotech 2007 Volume 3 | Buch | 978-1-4200-6184-0 | sack.de

Buch, Englisch, 710 Seiten, Format (B × H): 216 mm x 279 mm, Gewicht: 1507 g

Technology Inst

Technical Proceedings of the 2007 Nanotechnology Conference and Trade Show, Nanotech 2007 Volume 3

Buch, Englisch, 710 Seiten, Format (B × H): 216 mm x 279 mm, Gewicht: 1507 g

ISBN: 978-1-4200-6184-0
Verlag: Taylor & Francis Inc


NSTI's annual nanotechnology conference provides the most prestigious forum in the world for leading nano scientists, and Nanotech 2007 is no exception. The papers from this years conference have been compiled into four volumes to create the most authoritative and comprehensive compendium now available across all of nanotechnology. Including the latest information on industrial development, investments, and ventures, each volume explores cutting-edge research and applications. Volume III explores MEMS and NEMS, as well as fluidics, modeling, and integrated circuits.
Technology Inst Technical Proceedings of the 2007 Nanotechnology Conference and Trade Show, Nanotech 2007 Volume 3 jetzt bestellen!

Weitere Infos & Material


MEMS/NEMS. MEMS/NEMS: Modeling & Characterization.
Sensors & MEMS. Micro and Nano Fluidics. Micro and Nano Fluidics Design and Simulation. Review of Monolithic Integrated Circuits. Compact Modeling


NanoScience & Technology Institute


Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.