Puente León / Beyerer / Längle | OCM 2013 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings | Buch | 978-3-86644-965-7 | sack.de

Buch, Deutsch, 296 Seiten, Paperback, Format (B × H): 148 mm x 210 mm, Gewicht: 432 g

Puente León / Beyerer / Längle

OCM 2013 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings


Buch, Deutsch, 296 Seiten, Paperback, Format (B × H): 148 mm x 210 mm, Gewicht: 432 g

ISBN: 978-3-86644-965-7
Verlag: Karlsruher Institut für Technologie

The state of the art in optical characterization of materials is advancing rapidly. New insights into the theoretical foundations of this research field have been gained and exciting practical developments have taken place, both driven by novel applications that are constantly emerging. This book presents latest research results in the domain of Characterization of Materials by spectral characteristics of UV (240 nm) to IR (14 µm), multispectral image analysis, X-Ray, polarimetry and microscopy.
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Autoren/Hrsg.

Puente León, Fernando
Beyerer, Jürgen
Längle, Thomas
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