Poulsen | Three-Dimensional X-Ray Diffraction Microscopy | Buch | 978-3-540-22330-6 | sack.de

Buch, Englisch, Band 205, 156 Seiten, HC runder Rücken kaschiert, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 430 g

Reihe: Springer Tracts in Modern Physics

Poulsen

Three-Dimensional X-Ray Diffraction Microscopy

Mapping Polycrystals and their Dynamics

Buch, Englisch, Band 205, 156 Seiten, HC runder Rücken kaschiert, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 430 g

Reihe: Springer Tracts in Modern Physics

ISBN: 978-3-540-22330-6
Verlag: Springer Berlin Heidelberg


Three-dimensional x-ray diffraction (3DXRD) microscopy is a novel experimental method for structural characterisation of polycrystalline materials. The position, morphology, phase, strain and crystallographic orientation of hundreds of grains or sub-grain embedded within mm-cm thick specimens can be determined simultaneously. Furthermore, the dynamics of the individual structural elements can be monitored during typical processes such as deformation or annealing.

The book gives a comprehensive account of the methodology followed by a summary of selected applications. The method is presented from a mathematical/crystallographic point-of-view but with sufficient hands-on details to enable the reader to plan his or her own experiments. The scope of applications includes work in materials science and engineering, geophysics, geology, chemistry and pharmaceutical science.

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Research


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Weitere Infos & Material


Introduction.- Methods for Meso-scale Structural Characterization.- Geometric Principles.- GRAINDEX and Related Analysis.- Orientation Mapping.- Combining 3DXRD and Absorption Contrast Tomography.- Multi-grain Crystallography.- The 3DXRD Microscope.- Applications.- Alternative Approaches.- Concluding Remarks.


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