Buch, Englisch, 167 Seiten, Format (B × H): 176 mm x 251 mm, Gewicht: 466 g
Buch, Englisch, 167 Seiten, Format (B × H): 176 mm x 251 mm, Gewicht: 466 g
ISBN: 978-3-527-40653-1
Verlag: Wiley VCH Verlag GmbH
This up-to-date reference for students and researchers in the field is the first systematic treatment on the property measurements of organic semiconductor materials. Following an introduction, the book goes on to treat the structural analysis of thin films and spectroscopy of electronic states. Subsequent sections deal with optical spectroscopy and charge transport.
An invaluable source for understanding, handling and applying this key type of material for physicists, materials scientists, graduate students, and analytical laboratories.
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Naturwissenschaften Chemie Organische Chemie Organometallchemie
- Naturwissenschaften Physik Elektromagnetismus Halbleiter- und Supraleiterphysik
- Naturwissenschaften Physik Elektromagnetismus Mikroskopie, Spektroskopie
- Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Halb- und Supraleitertechnologie
- Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Oberflächen- und Grenzflächenphysik, Dünne Schichten
Weitere Infos & Material
1. Introduction
2. Growth of Thin Films
3. Structural Analysis
4. Optical spectroscopy
5. Electronic and Chemical Surface Properties
6. Charge Transport