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Technische Wissenschaften

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    Pietsch / Baumbach / Holy | High-Resolution X-Ray Scattering | Buch | Sack Fachmedien

    Pietsch / Baumbach / Holy High-Resolution X-Ray Scattering

    From Thin Films to Lateral Nanostructures
    2. Auflage 2004. Softcover Nachdruck of the original 2. Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4419-2307-3
    Medium: Buch
    96,29 € (inkl. MwSt.)
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    Pietsch / Holy / Baumbach | High-Resolution X-Ray Scattering | Buch | Sack Fachmedien

    Pietsch / Holy / Baumbach High-Resolution X-Ray Scattering

    From Thin Films to Lateral Nanostructures
    2. Auflage 2004
    Verlag: Springer-Verlag GmbH
    ISBN: 978-0-387-40092-1
    Medium: Buch
    139,09 € (inkl. MwSt.)
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