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Materialwissenschaft: Elektronik, Optik

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Schlipf / Michaelis / Fraunhofer IKTS, Dresden Micromechanical indentation study of stress related effects in transistor channels.

Erscheinungsjahr 2022

Verlag: Fraunhofer Verlag

ISBN: 978-3-8396-1797-7

Medium: Buch

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