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Franco / Groeseneken / Kaczer Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
2014Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-94-007-7662-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Franco / Kaczer / Groeseneken Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
2014Verlag: Springer NetherlandISBN: 978-94-007-7663-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Franco / Groeseneken / Kaczer Reliability of High Mobility SiGe Channel MOSFETs for Future CMOS Applications
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-94-024-0205-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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