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Celano Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices
1. Auflage 2016Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-39531-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
1. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-15611-4Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Celano Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices
1. Auflage 2016Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-39530-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
1. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-15612-1Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark171,19 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Celano Electrical Atomic Force Microscopy for Nanoelectronics
1. Auflage 2019Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-15614-5Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Celano Metrology and Physical Mechanisms in New Generation Ionic Devices
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-81906-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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