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    Pietsch / Baumbach / Holy High-Resolution X-Ray Scattering

    From Thin Films to Lateral Nanostructures
    2. Auflage 2004. Softcover Nachdruck of the original 2. Auflage 2004
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-1-4419-2307-3
    Medium: Buch
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    Pietsch / Holy / Baumbach High-Resolution X-Ray Scattering

    From Thin Films to Lateral Nanostructures
    2. Auflage 2004
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4757-4050-9
    Medium: eBook
    Format: PDF
    Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
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    Pietsch / Holy / Baumbach High-Resolution X-Ray Scattering

    From Thin Films to Lateral Nanostructures
    2. Auflage 2004
    Verlag: Springer-Verlag GmbH
    ISBN: 978-0-387-40092-1
    Medium: Buch
    139,09 € (inkl. MwSt.)
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