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Geisteswissenschaften

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    Bosio / Dilillo / Girard | Advanced Test Methods for Srams | Buch | Sack Fachmedien

    Bosio / Dilillo / Girard Advanced Test Methods for Srams

    Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
    2010. Auflage 2009
    Verlag: Springer Us
    ISBN: 978-1-4419-0937-4
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Bosio / Dilillo / Virazel | Advanced Test Methods for SRAMs | Buch | Sack Fachmedien

    Bosio / Dilillo / Virazel Advanced Test Methods for SRAMs

    Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
    2010
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4899-8314-5
    Medium: Buch
    109,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
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