Failure Mechanisms in Semiconductor Devices

2. Revised Auflage 1997
ISBN: 978-0-471-95482-8
Verlag: Wiley

Buch, Englisch, 360 Seiten, Format (B × H): 157 mm x 235 mm, Gewicht: 737 g

In dieser zweiten, aktualisierten Auflage identifizieren die Autoren die Ursachen und Mechanismen, die zu Ausfällen von Halbleiterbauelementen führen. Durch Erkennungsmethoden und Technologien zur Vermeidung von Defekten, die in diesem Buch ausführlich beschrieben werden, wird die Zuverlässigkeit der Bauelemente in der Praxis entscheidend bestimmt.

Autoren/Hrsg.

Amerasekera, E Ajith

Najm, Farid N

Fachgebiete

• Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffprüfung
• Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Produktionstechnik Zuverlässigkeitstechnik
• Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Festkörperphysik, Kondensierte Materie
• Naturwissenschaften Chemie Anorganische Chemie Festkörperchemie
• Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Oberflächen- und Grenzflächenphysik, Dünne Schichten
• Technische Wissenschaften Elektronik | Nachrichtentechnik Elektronik Halb- und Supraleitertechnologie
• Naturwissenschaften Physik Thermodynamik Physik der Zustandsübergänge

Inhaltsverzeichnis

Aus dem Inhalt:

Introduction. Reliability Mathematics. Principles Failure Mechanisms. Failure Mechanisms in Technologies and Circuits. Reliability Testing. Reliability Prediction. Screening. Failure Analysis. Quality Assurance.

Reliability Mathematics.

Principal Failure Mechanisms.

Failure Mechanisms in Technologies and Circuits.

Reliability Testing.

Reliability Prediction.

Screening.

Failure Analysis.

Quality Assurance.

Appendix.

Indexes.

Über Autor(innen)

E. Ajith Amerasekera is the author of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, 2nd Edition, published by Wiley. Farid N. Najm is the author of Failure Mechanisms in Semiconductor Devices, 2nd Edition, published by Wiley.